عنوان انگلیسی مقاله: Fault tolerance and reliability in field programmable gate arrays
عنوان فارسی مقاله: ترجمه مقاله قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
دسته: مقالات علمی و ISI
فرمت فایل ترجمه شده: فایل Word ورد 2007 یا 2003 (Docx یا Doc) قابل ویرایش
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 30
ترجمه سلیس و روان مقاله آماده خرید می باشد.
چکیده:
کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش تنوع در پروسه های within-die را می¬توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد (FPGA) دانست که منجر به توسعه پویای خطاها در طول چرخه عمر مدار ادغام یافته می شود. خوشبختانه، FPGA ها توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می¬سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.
ادامه دارد (Full-text)
